SJ/T 10627-1995 通过测量间隙氧含量的减少表征硅片氧沉淀特性的方法
作者:标准资料网 时间:2024-05-17 09:35:32 浏览:8930
来源:标准资料网
基本信息
| 标准名称： | 通过测量间隙氧含量的减少表征硅片氧沉淀特性的方法 |
| 英文名称： | Test methods for oxygen precipitation characterization of silicon wafers by measurement of interstitial oxygen reduction |
| 中标分类： |
综合 >>
标准化管理与一般规定 >>
技术管理 |
| 发布部门： | 中华人民共和国电子工业部 |
| 发布日期： | 1995-04-22 |
| 实施日期： | 1995-10-01 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 2010-01-20 |
| 归口单位： | 电子工业部标准化研究所 |
| 起草单位： | 电子工业部第46研究所 |
| 起草人： | 何秀坤、汝琼娜、李光平、段曙光 |
| 出版社： | 电子工业部标准化研究 |
| 出版日期： | 1995-09-01 |
| 页数： | 5页 |
适用范围
本标准规定了通过测定热退火前后硅片中间隙氧含量的减少来表征氧沉淀特性的方法。
本标准适用于室温电阻率大于0.1Ω .CM 的N型或P型直拉硅晶片，其热循环可为单一
温度或双温度。
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类： 综合 标准化管理与一般规定 技术管理
【英文标准名称】:Informationtechnology-Programminglanguages-COBOLTechnicalCorrigendum2
【原文标准名称】:信息技术.程序设计语言.COBOL技术勘误2
【标准号】:ANSI/INCITS/ISO/IEC1989TechnicalCorrigendum2-20
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2006
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(US-ANSI)
【起草单位】:ANSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:COBOL语言;编译程序;计算机软件;数据处理;定义;电子数据处理;信息处理;问题导向语言;程序设计;程序设计语言;规范(验收)
【英文主题词】:COBOL;Compilingprograms;Computersoftware;Dataprocessing;Definition;Definitions;EDP;Informationprocessing;Problem-orientedlanguages;Programming;Programminglanguages;Specification(approval)
【摘要】:TechnicalCorrigendumISO/IEC1989:2002.
【中国标准分类号】:L74
【国际标准分类号】:35_060
【页数】:
【正文语种】:英语
基本信息
| 标准名称： | 电荷放大器检定规程 |
| 英文名称： | Verification regulation of charge amplifier |
| 中标分类： |
综合 >>
计量 >>
无线电计量 |
| 替代情况： | JJG 338-83 |
| 发布部门： | 国家技术监督局 |
| 发布日期： | 1997-09-01 |
| 实施日期： | 1998-03-01 |
| 首发日期： | |
| 作废日期： | |
| 归口单位： | 中国计量科学研究院 |
| 起草单位： | 中国计量科学研究院、中国航空工业总公司304研究所 |
| 起草人： | 李文龙、于梅 |
| 出版社： | 中国计量出版社 |
| 出版日期： | 1998-03-01 |
| 页数： | 25页 |
| 书号： | 155026-1300 |
适用范围
本规程适用于新制造、使用中和修理后的二级和三级电荷放大器的检定。
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类： 综合 计量 无线电计量
