IEC 60749-17-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第17部分:中子辐照
作者:标准资料网 时间:2024-04-28 04:01:47 浏览:9044
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【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part17:Neutronirradiation
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第17部分:中子辐照
【标准号】:IEC60749-17-2003
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2003-02
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:半导体;电气工程;射线影响;半导体器件;元部件;电子设备及元件;电学测量;环境试验;集成电路;中子射线;气候;气候试验;电子工程;机械试验;试验;破坏试验
【英文主题词】:Climate;Climatictests;Components;Destructivetesting;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Integratedcircuits;Mechanicaltesting;Neutronradiation;Radiationeffects;Semiconductordevices;Semiconductors;Testing
【摘要】:Usedtodeterminethesusceptibilityofsemiconductordevicestodegradationintheneutronenvironment.Applicabletointegratedcircuitsanddiscretesemiconductordevices.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:20P.;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第17部分:中子辐照
【标准号】:IEC60749-17-2003
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2003-02
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:半导体;电气工程;射线影响;半导体器件;元部件;电子设备及元件;电学测量;环境试验;集成电路;中子射线;气候;气候试验;电子工程;机械试验;试验;破坏试验
【英文主题词】:Climate;Climatictests;Components;Destructivetesting;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Integratedcircuits;Mechanicaltesting;Neutronradiation;Radiationeffects;Semiconductordevices;Semiconductors;Testing
【摘要】:Usedtodeterminethesusceptibilityofsemiconductordevicestodegradationintheneutronenvironment.Applicabletointegratedcircuitsanddiscretesemiconductordevices.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:20P.;A4
【正文语种】:英语
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